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AEMD系列技术研讨会:HORIBA Scientific光谱新技术在材料表征中的应用

[责任编辑]李敏妍 [信息提供]电信学院 韩晓佳

活动名称:AEMD系列技术研讨会:HORIBA Scientific光谱新技术在材料表征中的应用

活动时间:2013年4月11日下午14:00

活动地点:上海交通大学(闵行校区)电信学院三号楼100号

主办:HORIBA Scientific (Jobin Yvon光谱技术)

协办单位:上海交通大学先进电子材料与器件(AEMD)平台

  为了让大家了解最新的拉曼技术,以及HORIBA Scientific光谱新技术在材料表征中的应用,HORIBA集团科学仪器事业部诚邀您参加在上海交通大学举办的技术研讨会。

会议安排:

时间

内容

14:00-15:10

拉曼光谱技术在材料表征中的应用
—材料表征/拉曼与AFM联用/针尖增强拉曼/同区域成像/PL

15:20-16:00

椭圆偏振光谱仪在新材料薄膜表征中的应用

16:00-16:35

光学光谱系统在材料与器件表征中的应用

  为方便我们对会议的组织与安排,请您于4月10日前,通过以下邮件地址报名参加会议。

会议联系人
联系人:Ms.Shen
电 话:021-62896060-161
邮件地址:yilei.shen@horiba.com

AEMD平台联系人
联系人:Ms.Han
电 话:021-34207734-8007
邮件地址:xiaojiahan@sjtu.edu.cn